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原理介绍 测试项目及样品要求 常见问题
一、产品概述 名称：扫描电子显微镜SEM 原理： 用入射电子束轰击样品表面，电子与元素原子核及外层电子发生碰撞，在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能，而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。扫描电镜设备就是通过这些信号得到讯息，从而对样品进行分析的。 型号：Zeiss Gemini 300，S4800 二、产品应用： 应用领域： 广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等 检验和研究。
一、产品概述
名称：扫描电子显微镜SEM
原理：
用入射电子束轰击样品表面，电子与元素原子核及外层电子发生碰撞，在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能，而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。扫描电镜设备就是通过这些信号得到讯息，从而对样品进行分析的。
型号：Zeiss Gemini 300，S4800
二、产品应用：
应用领域：
广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等 检验和研究。
测试项目： 可测项目：形貌、点扫、线扫、面扫、mapping、云视频 备注：非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄 样品要求： 1. 样品状态：粉末、液体、薄膜、块体均可测试，粉体样品大概10mg，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm 2. 粉体样品：常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试请提前说明； 3. 液体样品：测试人员根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到导电胶、硅片或铝箔上，如有指定要求请提前说明； 4. 薄膜或块体样品：请标明测试面，如需测试截面，请自行自备截面或提前说明；
Ⅰ. 不导电或导电差的样品，为什么要喷金？ SEM成像，是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好，会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等现象，喷金后样品表面导电增强，从而避免积电现象。 Ⅱ. 喷金后，对样品形貌是否有影响？ 样品表面喷金后，只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层，厚度只有几个纳米到十几个纳米而已，对于看形貌来说，几乎是没有什么影响的。 Ⅲ. 一个样品会提供几张图片？ 每样品提供6-8张左右，具体根据样品的拍摄情况而定。
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