一、产品概述
名称：X射线荧光光谱仪XRF
产品原理：
当样品中元素的原子受到高能X射线照射时，即发射出具有一定特征的X射线谱，特征谱线的波长只与元素的原子序数（Z）有关，而与激发X射线的能量无关。谱线的强度和元素含量的多少有关，所以测定谱线的波长，就可知道试样中包含什么元素，测定谱线的强度，就可知道该元素的含量。
型号：PANalytical Axios、 RIGAKU ZSX Priums
二、产品应用
应用领域：
广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属、玻璃、陶瓷和建材的调查和研究，地球化学、法医学、考古学和艺术品，例如油画和壁画。
测试项目：可测元素范围：11Na-92U结果模式：单质、氧化物一般是半定量测试，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。
样品要求：1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品；2. 粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，200目以下；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；3. 块状、薄膜样品：块状样品必须有一边大于2.5 cm，标明测试面（表面光滑平整）。
Ⅰ. XRF可以测量什么样件？XRF分析仪可以对着各种样件进行测量，并获得检测结果。使用分析仪完成的常见应用包括金属废料的分拣、合金牌号的辨别、金属制造业的质量控制（QC） 、地质勘探或采矿、工业材料的检测，如：水泥或煤炭等，以及消费产品的检测，以发现漆层中的铅或其他污染物。
Ⅱ. XRF不能检测什么元素？XRF分析仪不能检测元素周期表上最轻的一些元素（镁以下的元素，如：氢、碳、氮、氧和钠）。这些元素的X射线太弱，不能返回到探测器进行计数处理。XRF分析仪只能提供存在哪种元素以及元素含量的信息，而不能提供有关化学结构的信息。
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