一、产品概述
名称：原子力显微镜AFM
产品原理：
一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
型号：Bruker Dimension Edge、Bruker Dimension ICON、安捷伦5500
二、产品应用
应用领域：
主要应用于材料科学、聚合物科学、半导体工业、电化学、生命科学等领域。
测试项目：a. 粉末，溶液，块状样品的表面形貌，厚度，粗糙度测试b. 生物/纤维样品的表面形貌c. 相图d. PFM（压电力显微镜）， EFM（电场力显微镜）， KPFM（表面电势，Kelvin探针）， MFM（磁力显微镜）， CAFM（导电原子力显微镜），QNM（弹性模量），力曲线等特殊模式。
样品要求：1. 样品状态：可为粉末、块体、薄膜样品；2. 粉末样品：颗粒一般不超过1微米，提供20mg；3. 粉末/液体样品：请备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；4. 薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过1um，一定要标明测试面！5. 测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小最小不小于1*1cm。
Ⅰ. 为什么AFM测试样品颗粒或者表面粗糙度不能过大？因为尺寸过大，会碰到仪器探针针尖，针尖易磨钝以及受污染，且磨损无法修复，污染则清洗困难 。
Ⅱ. AFM拍摄不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度与自己预期不符合？AFM拍摄也需要不断寻找合适的位置拍摄，同一样品不同拍摄部位表面形貌和粗糙度极有可能不一致，因为原子力显微镜成像范围较小，与拍摄样品表面是否均匀息息相关。
我的购物车