一、产品概述
名称：基质辅助激光解吸-飞行时间质谱仪
产品原理：
当用一定强度的激光照射样品与基质形成的共结晶薄膜，基质从激光中吸收能量，基质-样品之间发生电荷转移使得样品分子电离，电离的样品在电场作用下加速飞过飞行管道，根据到达检测器的飞行时间不同而被检测，即测定离子的质量电荷之比与离子的飞行时间成正比来检测离子。
型号：JY-82B Kruss DSA
二、产品应用
应用领域：
适用于塑料薄膜、橡胶、细金属丝、纤维和细线、铝箔、铜箔、生物材料、高分子材料、薄金属、高强度金属丝、部件、紧固件、复合材料等。
测试项目：1. 依据测试结果分为：低分辨和高分辨；2. 测试模式分为：线性模式和反射模式；3. 常用的测试基质为：CHCA、DHB、SA。
样品要求：1. 样品状态：薄膜，样品平面尺寸一般要求5*5mm，最大不超过8*8mm，厚度最好不要超过1mm，样品要求具有一定导电性；2. 粉体样品：需要制备为薄膜，具体制备方法及要求如下：先把粉末样品分散在水或乙醇里（浓度尽量低点），滴在硅片上烘干，可以多循环几次，一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁，硅片尺寸5*5mm-5*8mm，厚度几百μm，涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可（膜层厚度10-50nm即可），膜层的电阻最好小于10兆欧，最大不能超过30兆欧。
Ⅰ. 测试结果为什么跟文献或者预期有偏差？第一，由于UPS测量中光激发电子的动能在0-20eV范围，在此能量区间的电子逃逸深度较小，且随能量急剧变化，材料表面的导电性、污染程度和粗糙度等因素会对测量结果产生较大影响，轻则导致谱图的峰位移动和峰形变化，重则导致无信号。UPS适用于分析表面均匀洁净的导体以及导电性较好的半导体薄膜材料。对于合成的粉末样品，影响因素较多，UPS测试存在一定风险 ； 第
Ⅱ. UPS测试过程中，紫外光的扫描范围仅为样品中的某个微小区域，如果样品制备不均匀，或者测试区域恰好条件不佳，也可能会影响测试结果；Ⅱ. 测试人员给出的数据分析结果准确吗，是否可以调整？测试人员给出的只是分析结果仅供参考，因为测试人员不知道每个样品具体是什么材料，只能根据自己的习惯和经验大致作图分析，所以我们一般还需要根据对样品性质的了解，对数据分析结果微调甚至大的调整。
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