根据Bragg方程，衍射角与晶格间距的关系:

在广角衍射（XRD）的角度范围内能测定的晶格间距为零点几到几纳米，获取的是原子尺寸上排列的信息；然而，在一些要求测定几纳米到几十纳米的长周期的物质中，如结晶聚合物，蛋白质，有序介孔材料，就要求测定角度缩小到小角范围，也就是说，要在1-2o内测定衍射强度或记录衍射花样。 

在小角散射仪的光学系统中，X射线源至式样的距离和试样至探测器的距离都远远大于广角衍射。 

小角散射研究的是靠近入射光附近的信息（2 θ< 5 o），为了使小角散射信息尽可能与入射

光束分开，要求狭缝较细，光路较长，并具有很好的准直系统。其散射强度公式为： 

SAXS用于埃至数百埃尺度的电子密度不均匀区的定性和定量分析；系统的电子密度起伏（Δp）决定其小角散射的强弱；相关函数γ（r）决定着散射强度的分布。在SAXS图谱中，横坐标为散射矢量（q = 4πsinθ / λ）；纵坐标为其强度。