激光粒度仪测量粒度的原理是MIE散射理论，MIE散射理论用数学语言精确描述了折射率n、吸收率为m的特定物质的，粒径为d球型颗粒，在波长为λ单色光照射下，散射光强度随着散射角θ拜年话的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据MIE散射理论颗粒看出颗粒越大，前向散射越强而后向散射越弱；随着颗粒粒径的减小，向前散射迅速减弱而后向散射逐渐增强。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列，测试颗粒的散射谱，由此确定颗粒粒径的大小，这种散射谱对于特定颗粒在空间具有稳定分布的特征，因此称这种原理的仪器为静态激光粒度仪。

但是当颗粒粒径小到一定的程度dm，与另一种更小颗粒dm-δ相比，如果二种颗粒的散射谱非常相似，以至不能被光电探测器阵列所分辨，就认为达到了激光粒度仪的测量极限，此粒径dm就是激光粒度仪的测量下限。此极限还与激光波长有关，研究表红光635nm波长的激光测量极限为50nm，而 蓝光405nm波长的激光理论极限为20nm。理论上，静态激光粒度仪欲分辨纳米级你的颗粒至少需要两个条件：1.具有测量后向散射的光电探测器阵列；2.需要用波长更短的激光器，在可见光的范围内，20nm是静态激光粒度仪的理论 测量下限。