大家好,请教一下问题。如题。由于想去材料SiC表面以下的深度方向的分析,想看看表面下1um深度内的化学成分变化。各位是如何求得溅射SiC的去除率的?各位用什么 仪器?有什么建议?谢谢。
今天,你遇到什么问题呢?
我在 奇才网 上遇到了问题「XPS光电子能谱分析之———溅射速度问题」 → /wenku/User/index.php/Index/question_detail/pid/7244,希望您能帮我解答
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